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用透射电子显微镜收集晶体三维衍射信息

  • 【作       者】 李方华 樊汉节
  • 【作者单位】 中国科学院物理研究所
  • 【出       处】矿物学报
  • 【年       份】1984
  • 【卷       号】第4期
  • 【页       码】377-381
  • 【   ISSN   】1000-4734
  • 【  关键词  】 透射电子显微镜 电子衍射花样 三维衍射 倒易点 晶体 倾转角度 指标化 对称性 X射线 晶胞参数
  • 【摘       要】 一、引言 尽管X射线衍射是测定晶体结构最有效的方法。但当某些高度分散的物质,得不到足够大的单晶时,用X射线衍射方法测定其晶体结构就有一定困难。此时,可利用电子衍射的优越性弥补X射线的不足。一个非常小的薄晶体,只要线性大小为几千埃,在电子显微镜下,就能给出很好的电子衍射花样。一张单晶电子衍射花样只代表一个倒易点阵平面。为了收
  • 【文献类型】 期刊
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